1、負(fù)責(zé)ASIC芯片從RTL到GDSII的詳細(xì)物理設(shè)計(jì)與驗(yàn)證工作，包括物理架構(gòu)規(guī)劃，布局布線、電源規(guī)劃、時(shí)鐘樹綜合、時(shí)序收斂、物理驗(yàn)證、電源網(wǎng)絡(luò)分析和低功耗設(shè)計(jì)等，在PPA（性能、功耗、成本）達(dá)成、設(shè)計(jì)/工藝窗口匹配等方面提供有競爭力的解決方案；
2、負(fù)責(zé)ASIC芯片DFT設(shè)計(jì)及驗(yàn)證，對測試成本、測試覆蓋率、失效率、交付時(shí)間負(fù)責(zé)，提供有競爭力的測試向量及解決方案
"1、微電子、計(jì)算機(jī)、通信工程、數(shù)學(xué)、自動(dòng)化、材料、物理等相關(guān)專業(yè)本科及以上學(xué)歷；
2、符合如下任一條件者優(yōu)先：
（1）熟練掌握深亞微米后端物理設(shè)計(jì)流程，了解Synopsys/Cadence等數(shù)字芯片物理設(shè)計(jì)工具、Calibre等物理驗(yàn)證工具及PT等時(shí)序驗(yàn)證工具；
（2）熟悉數(shù)字芯片DFT或前端邏輯設(shè)計(jì)流程，熟悉verilog等數(shù)字電路硬件描述設(shè)計(jì)語言，了解或能使用 Synopsys或 Mento
2、負(fù)責(zé)ASIC芯片DFT設(shè)計(jì)及驗(yàn)證，對測試成本、測試覆蓋率、失效率、交付時(shí)間負(fù)責(zé)，提供有競爭力的測試向量及解決方案
"1、微電子、計(jì)算機(jī)、通信工程、數(shù)學(xué)、自動(dòng)化、材料、物理等相關(guān)專業(yè)本科及以上學(xué)歷；
2、符合如下任一條件者優(yōu)先：
（1）熟練掌握深亞微米后端物理設(shè)計(jì)流程，了解Synopsys/Cadence等數(shù)字芯片物理設(shè)計(jì)工具、Calibre等物理驗(yàn)證工具及PT等時(shí)序驗(yàn)證工具；
（2）熟悉數(shù)字芯片DFT或前端邏輯設(shè)計(jì)流程，熟悉verilog等數(shù)字電路硬件描述設(shè)計(jì)語言，了解或能使用 Synopsys或 Mento
職位類別： 集成電路IC設(shè)計(jì)
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- 公司性質(zhì)：0
- 所屬行業(yè)：電力、電氣、自動(dòng)化、熱力、鍋爐、照明、電池、電源、電纜、光電等
- 聯(lián)系人：吳海燕
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